新型膜厚控制仪器1
产品名称： 新型膜厚控制仪器1
英文名称： CDNY
产品编号： CDNY-06AM
产品价格： 0
产品产地： 四川成都
品牌商标： CDNY
更新时间： null
使用范围： null
成都南仪电子电气有限责任公司
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CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 |
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| CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。
主要性能指标及技术指标 |